JEOL:公布新的扫描电子显微镜JSM

产品时间:2020-09-03 22:00

简要描述:

SEM –日常实验室操作中的必需品 – JSM-IT700HR使操作变得简单东京--(美国商业资讯)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(总裁兼首席运营官:Izumi Oi)宣布,将于2020年8月推出新的扫描电子显微镜(SEM) JSM...

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详细介绍

SEM –日常实验室操作中的必须品 – JSM-IT700HR使操作变得简朴

为增强“浅易操作性”JSM-IT700HR增加了整合到SEM GUI中的新功效以显示特征X射线生成深度。这有助于迅速相识样本的分析深度(参考值)这对元素分析十分有用。

开发配景

JSM-IT700HR具有1纳米高分辨率和300 nA的最大探针电流(比以前型号高15倍)提供大量的视察和分析信息。简朴易用的用户界面、可容纳大样本室的紧凑设计以及为主控制台提供新的防振支架均使视察和分析比以前越发舒适。

扫描电子显微镜应用于纳米技术、冶金、半导体、陶瓷、医学和生物学等种种领域。此外SEM的应用规模正在不停扩大以涵盖质量控制和基础研究。因此对于更快地收罗高质量SEM图像的数据和更轻松地确认组成信息的需求也在不停增长。

JSM-IT700HR基于我们屡获殊荣的“InTouchScope™”系列SEM构建配备我们的浸没式(in-lens)肖特基(Schottky)场发射电子枪(FEG)。这款功效强大的新型SEM满足日常实验室操作中对进一步小型化质料举行视察和分析的需求。

东京--(美国商业资讯)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(总裁兼首席运营官:Izumi Oi)宣布将于2020年8月推出新的扫描电子显微镜(SEM) JSM-IT700HR提供前所未有的高通量。

130台/年(起始年)

特性

浸没式肖特基场发射电子枪有助于高清图像视察和高空间分辨率分析。 Zeromag功效可链接Holder Graphics、CCD和SEM图像使样本导航比以往任何时候都容易。 借助我们的“Analytical系列”(实时分析功效)嵌入式EDS系统可在图像视察期间显示实时EDS光谱以便举行高效的元素分析。 显示分析深度(特征X射线生成深度)的新功效支持快速元素分析。 SMILE VIEW™ Lab可对图像和分析数据举行综合治理有助于加速生成从收集的SEM图像到元素分析效果的所有数据陈诉。 “Specimen Exchange Navi”可实现宁静、简朴的样本交流。 借助自动电子束准直(Auto Beam Alignment)功效电子光学条件始终保持最佳状态。 “抽出式交流系统”有助于轻松会见大样本室该样本室可容纳种种尺寸和类型的样本。

销售目的

提供两种设置:1)用于高真空和低真空图像视察的JSM-IT700HR/LV;2)带有集成JEOL EDS系统的JSM-IT700HR/LA。

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